测试岗位面试题更新 2026-08-05
请解释数字电路中的竞争与冒险现象，并说明它们产生的原因、可能导致的后果以及常用的消除方法。
长鑫存储测试电子/半导体风险判断技术原理
考察说明
考察对数字电路竞争冒险概念、成因、危害及消除方法的理解
回答思路
- 能准确阐述竞争与冒险的定义及二者关系
- 能分析产生竞争冒险的典型场景（如组合逻辑中信号路径延时不同）
- 能说明冒险现象可能导致的功能错误或毛刺
- 能列举至少一种消除冒险的常用方法并解释原理
本题附完整参考答案与评分标准
登录后可查看结构化答题指导；也可以直接开一场模拟面试，AI 面试官用本题实时追问并给出评分。
